插拔试验 试验目的：验证产品各I/O口长期插拔对相关器件的影响. 试验设备：插拔机/手工完成 试验样品：3PCS 试验内容：1、手写笔插入孔内,然后拔出2万次。 2、T-F卡,SD卡,水晶头接口，耳机，MIC头拔插2000次。 3、掌机与整机连接线插拔10000次。 4、以上试验

点读笔点触试验 试验目的：验证点读笔配合整机的可靠性和稳定性。 试验设备：按键寿命仪 试验样品：3PCS 试验内容：1、常温状态。力度：200--300g力. 2、敲击速度：3次/秒。 3、点读笔点触试验10万次 4.每1万次检查一次.且保证3S内有效. 判定标准：1、试验后

触摸屏敲击试验 试验目的：验证产品触摸屏ITO敲击寿命的可靠性和稳定性. 试验设备：按键寿命仪 试验样品：3PCS 试验内容：1、力度200g.f，用尖端R0.8的POM笔, 2、敲击速度：3次/秒 3、触点次数：100万次。 判定标准：1、外观不能液晶气泡，无液晶漏夜，偏光片

触摸屏笔化试验 试验目的：验证产品触摸屏笔化的可靠性和稳定性。 试验设备：耐磨仪 试验样品：3PCS 试验内容：1、150g.f，用尖端R0.8的POM笔, 2、速度:25次/分钟长度为:20MM左右. 3、测试次数10万次.(来回为2次) 4、每1万次检查一次样品功能 . 判定标准：1、

按键寿命试验 试验目的：检验产品的使用寿命及长期按键对周围器件的影响。 试验设备：按键试验寿命试验机 试验样品：3PCS 试验内容：1、常温状态下。 2、击打10万次。 3、速度：2次/秒，压力：8-10V（200-300gf力）。 4、每击打5000次后，检查是否有按键脱漆