电子元器件的可靠性基础试验 概述 可靠性试验的范围非常广泛。从广义上说，凡是与可靠性有关的试验都可以称为可靠性试验。也可以说，为评价、分析电子元器件的可靠性而进行的试验称为电子元器件的可靠性试验。可靠性试验的目的是考核电子元器件在运输、使用

正确评定设备的可靠性 评定设备可靠性的特征量可以是平均无故障工作时间（MTBF)。一般来说，设备的平均无故障工作时间越长，可靠性水平越高。但是我们在评定某一种设备的可靠性水平时，或者在比较各类设备的可靠性水平时，还不能单从MTBF数值的大小上来衡量，

全数可靠性验收试验 当规定每一台设备都要进行可靠性验收试验时采用。本试验可以代替抽样验收试 验。 可靠性埔长试验 通过采取纠正措施，系统地并永久地消除失效机理(不管失效原因如何），使设备可靠性获得确实提高的试验，叫做可靠性增长试验。它不是为了验

可靠性试验的种类及其目的 可靠性试验的种类，按照试验地点可分为现场可靠性试验与实验室模拟可靠性试验；按照试验的目的可分为可靠性测定试验、可靠性鉴定试验、可靠性验收试验、成功率试验、全数可靠性试验和可靠性增长试验。其中鉴定试验、验收试验、成功

电子设备的可靠性试验 电子元器件大多是通过组成电子设备而工作的，有些电子元器件的可靠性水平是通过由它组装的电子设备的可靠性试验获得的,所以这里我们简单介绍一下电子设备的可靠性试验。 所谓电子设备(简称设备)是指在地面、海洋、空中使用的各种电子系